正電子壽命時(shí)間譜系統(tǒng)

正電子壽命時(shí)間譜系統(tǒng)

概述

正電子的存在首先由 Dirac 提出，在 20 世紀(jì) 30 年代通過實(shí)驗(yàn)得到證實(shí)。正電子是電子的反粒子。正電子與電子的碰撞將導(dǎo)致兩個(gè)粒子湮滅和發(fā)射兩個(gè)特征 511-keV 伽馬射線。這種現(xiàn)象有助于測試量子理論關(guān)于電子和正電子與物質(zhì)相互作用之間差異的預(yù)測。此外，正電子已被證明是研究各種結(jié)構(gòu)和過程的有用工具。正電子的壽命可用來測量湮滅點(diǎn)處的局部電子密度。借助于發(fā)射的伽馬射線可以輕松檢測湮滅。正電子壽命技術(shù)是對單原子尺度空洞敏感的少有的幾種方法之一。

優(yōu)點(diǎn)

• 經(jīng)過全面測試和集成的“交鑰匙"系統(tǒng)... 您只需要一個(gè)正電子源。

• 一整套帶標(biāo)簽的電纜和連接器。

• 兩個(gè) 905-21 型探測器組件。

• 有關(guān)測試過程和結(jié)果的文檔。

PLS-System 包括

• 2 個(gè) 905-21 型探測器組件。

• 2 個(gè) 583B 型恒定分?jǐn)?shù)鑒別器。

• 2 個(gè) 556 型高壓電源。

• 1 個(gè) 414A 型快速符合。

• 1 個(gè) 567 型時(shí)間幅度轉(zhuǎn)換器/單通道分析儀。

• 1 個(gè) 928-MCB 型多通道分析儀，帶 MAESTRO 軟件。

• 1 個(gè) DB463 型延遲盒。

• 1 個(gè) 4001A/4002D 型 NIM 機(jī)箱和電源。

• 1 個(gè) 113 型前置放大器。

• 1 個(gè) 575A 型光譜放大器。

• 1 臺個(gè)人電腦。

• 1 套帶標(biāo)簽的電纜和連接器。

• 1 個(gè)規(guī)程與工廠測試文檔。

該系統(tǒng)的保證時(shí)間分辨率為 200 皮秒（通常測量小于 180 皮秒），使用 Co-60 源在窄能量窗口進(jìn)行測量。

（此系統(tǒng)不含源。）

PALS：達(dá)到納米級。

軟凝聚物質(zhì)最重要的一個(gè)結(jié)構(gòu)問題是由于不規(guī)則堆積、密度波動和拓?fù)浼s束而在分子之間存在未占據(jù)或自由體積。自由體積被認(rèn)為是能夠進(jìn)行分子重組的體積分?jǐn)?shù)，并且在確定系統(tǒng)的物理和機(jī)械性質(zhì)方面具有重要意義。

PALS 是一種成熟、多功能的技術(shù)，可以直接測量這些亞納米級分子自由體積。PALS 實(shí)驗(yàn)將正電子注入到被測材料中然后測量它與材料的一種產(chǎn)生伽馬射線的電子一起湮滅之前的時(shí)間長度。